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MEGREZ-α双源单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪是w66利来十年技术积累的结晶，依靠全聚焦型双曲面弯晶核心技术，采用两个X射线激发源，将能量色散X射线荧光光谱仪元素分析范围扩展至C、N、O、F，且有无可比拟的灵敏度和稳定性，结合一如既往对金属元素优异的低检出限性能，从而成为元素分析性能优异的新型X射线荧光光谱仪。
全息基本参数法（Holospec FP 2.0®）对MEGREZ-α无缝支持，提升元素定量准确度和适应性，客户可以轻松自如完成各类样品的方法开发，为XRF带来前所未有的应用前景。
• 核心技术：集成X射线荧光光谱仪前沿技术
1) 全聚焦型双曲面弯晶单色化聚焦激发技术
● 极大消除X射线管出射谱中散射线背景
● 聚焦激发增加探测器接收元素荧光信号强度
● 偏振消光光路进一步降低入射射线散射线背景
2) 双X射线管实现全元素（C-U）高灵敏分析
● 双X射线管与双曲面弯晶组成多个单色化器，实现全元素分析范围
● 增强对超轻元素（C、N、O、F）激发和接收性能
3) 软件核心技术：全息基本参数法（Holospec FP 2.0）
● 理论计算解决XRF基体效应、元素间吸收-增强效应、探测器效应等
● 实现元素无标定量分析
● 提升元素定量精度
● 扩展样品适应范围
集成X射线荧光领域核心技术的双源单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪MEGREZ-α荣获“2022年朱良漪分析仪器创新成果奖”和“2022年度科学仪器行业优秀新品奖”！
- 双X射线管多单色化器
创新采用Ag靶与W靶双X射线管设计，分别与全聚焦型双曲面弯晶组成单色化聚焦入射光路，分段高效激发全元素（C-U）能量范围。
下照式光路设计
入射射线自上而下照射样品表面，避免样品表面灰尘污染光路系统或探测器，更可直接分析液体样品。
样品自旋装置
样品围绕中心轴旋转，入射射线扫描样品较大面积，减少样品不均匀性造成的分析误差。
机器人进样系统
三轴机器人进样系统，定位精度±0.1mm，可批量完成90个以上样品分析。
自充气光路吹扫系统
氢气气路吹扫系统使系统快速达到稳定状态，无需复杂的维护。
- 指标参数说明原理双源单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪采用双X射线管和全聚焦型双曲面弯晶分段高效激发不同能量段元素测试范围
元素周期表C6-U92之间的元素 元素检出限 超轻元素（C-F）：O - LOD＜0.2%，F - LOD＜0.05%；
重金属元素（Co-U）：Pb/As - LOD＜0.2mg/kg，Cd-LOD＜0.1mg/kg；
（C、H、O、N为主量元素的轻基体样品，元素分析时间以300秒计）重复性超轻元素：F含量1%，RSD＜5%；
轻元素：S含量50mg/kg，RSD＜5%；
重金属元素：Pb/As/Cd含量1mg/kg，RSD＜10%；
（轻基体样品，元素分析时间600秒，7次分析重复性结果）无标定量能力主量元素1%-90%，相对误差±10%；
杂质元素0.01%-1%，相对误差±15%；
微量元素0.0001%-0.01%，相对误差±20%；全息基本参数法与先进的数学模型相结合；
采用标准物质建立校正曲线，定量精度进一步提升分析时间30~900秒依据样品类型和元素分析范围和精度，软件设定自动进样单元＞90位机器人自动进样装置；
位置重复定位精度＜0.1mm；环境要求温度23℃±5℃
湿度＜85%Rh
电源220V±15V，1000W光源系统 全聚焦型双曲面弯晶技术，单色化聚焦入射样品； 探测器 能量分辨率≤130eV@Mn Kα，最大计数率≥1100kcps；
可选与可升级部件表
部件 性能 说明 轻元素单色化激发与聚焦装置 高效激发轻元素（Na-Cl）和金属元素范围（K-Zn） 相应的X射线管与单色化器 重金属元素单色化激发与聚焦装置 高效激发金属元素（K-Zn）和重金属元素（Ga-U）范围 相应的X射线管与单色化器 超轻元素增强型SDD探测器 增强超轻元素（C-F）元素荧光透过率 更换为增强超轻元素型SDD探测器 自动进样单元 90位机器人进样单元
具体配置与性能指标，请咨询w66利来工作人员！
环境物质（土壤、固废、空气滤膜、水质）无机元素含量分析；矿产冶炼从骨料、精矿到金属、合金元素含量分析；
锂电池（前驱体、正极、负极、涂布层）材料元素（包括Li）含量分析；
食品、农产品、中药中重金属含量分析；
各类镀层膜厚元素成分与厚度分析；
科学研究；
适用于液体、固体、粉末样品类型；
具体适用于产品分析样品与元素含量，请咨询w66利来工作人员！
双源单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪双源单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪是w66利来十年技术积累的结晶，依靠全聚焦型双曲面弯晶核心技术，采用两个X射线激发源，将能量色散X射线荧光光谱仪元素分析范围扩展至C、N、O、F，且有无可比拟的灵敏度和稳定性，结合一如既往对金属元素优异的低检出限性能，从而成为元素分析性能优异的新型X射线荧光光谱仪。
MEGREZ-α产品技术白皮书
通过全聚焦型双曲面弯晶技术实现 X 射线光管出射谱单色化聚焦激发样品，降低 X 射线管散射线背景 干扰，大幅降低元素检出限;采用高计数率与分辨率硅漂移探测器采集荧光信号，达到对样品中痕量元素 检测能力;完整的基本参数法，提升样品元素定量精度和样品适应性，支持开发各类样品应用方法;采用 双 X 射线管实现不同能量段的单色化聚焦激发，实现更宽元素范围(C-U)定量分析。
